هفته نامه اطلاع رسانی اختراعات منتشر شده در سازمان جهانی مالکیت فکری
invbazaar.com

سالهفتهIDTitleApplNoIPCApplicantSubgroupزیر گروهرشته شرحDescription
202602WO/2026/009551LIGHT DETECTION DEVICE, SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND MEASUREMENT METHODJP2025/016234G01Q 20/02SHIMADZU CORPORATIONPHYSICSفیزیکابزارها
202602WO/2026/010502SCANNING PROBE MICROSCOPY SYSTEM AND METHOD FOR MAPPING NANOSTRUCTURES ON A SAMPLE SURFACE OF A SAMPLE.NL2025/050330G01Q 10/06NEARFIELD INSTRUMENTS B.V.PHYSICSفیزیکابزارها